IEC/TS 62396-2-2008 电子设备的过程管理.大气辐射效应.第2部分:电子设备系统的单一作用效应测试指南
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时间:2024-05-12 00:59:16
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【英文标准名称】:Processmanagementforavionics-Atmospericradiationeffects-Part2:Guidelinesforsingleeventeffectstestingforavionicssystems
【原文标准名称】:电子设备的过程管理.大气辐射效应.第2部分:电子设备系统的单一作用效应测试指南
【标准号】:IEC/TS62396-2-2008
【标准状态】:作废
【国别】:国际
【发布日期】:2008-08-01
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IX-IEC)
【起草单位】:IEC/TC107
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:航空航天运输;航空运输;大气辐射;宇宙辐射;影响;电气工程;电子工程;电子设备;电子设备及元件;电子仪器;设备;指南;管理;中子;工艺管理;质量保证;辐射作用;辐射影响;辐射暴露;额定值;可靠度;规范;规范(验收)
【英文主题词】:Aerospacetransport;Airtransport;Atmosphericradiation;Cosmicradiation;Effect;Electricalengineering;Electronicengineering;Electronicequipment;Electronicequipmentandcomponents;Electronicinstruments;Equipment;Guidelines;Management;Neutrons;Processmanagement;Qualityassurance;Radiationaction;Radiationeffects;Radiationexposure;Ratings;Reliability;Specification;Specification(approval);Specifications
【摘要】:Thepurposeofthistechnicalspecificationistoprovideguidancerelatedtothetestingofmicroelectronicdevicesforpurposesofmeasuringtheirsusceptibilitytosingleeventeffects(SEE)inducedbytheatmosphericneutrons.Sincethetestingcanbeperformedinanumberofdifferentways,usingdifferentkindsofradiationsources,italsoshowshowthetestdatacanbeusedtoestimatetheSEErateofdevicesandboardsduetotheatmosphericneutronsintheatmosphereataircraftaltitudes.
【中国标准分类号】:L04;V40
【国际标准分类号】:49_060
【页数】:32P.;A4
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:电子设备的过程管理.大气辐射效应.第2部分:电子设备系统的单一作用效应测试指南
【标准号】:IEC/TS62396-2-2008
【标准状态】:作废
【国别】:国际
【发布日期】:2008-08-01
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IX-IEC)
【起草单位】:IEC/TC107
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:航空航天运输;航空运输;大气辐射;宇宙辐射;影响;电气工程;电子工程;电子设备;电子设备及元件;电子仪器;设备;指南;管理;中子;工艺管理;质量保证;辐射作用;辐射影响;辐射暴露;额定值;可靠度;规范;规范(验收)
【英文主题词】:Aerospacetransport;Airtransport;Atmosphericradiation;Cosmicradiation;Effect;Electricalengineering;Electronicengineering;Electronicequipment;Electronicequipmentandcomponents;Electronicinstruments;Equipment;Guidelines;Management;Neutrons;Processmanagement;Qualityassurance;Radiationaction;Radiationeffects;Radiationexposure;Ratings;Reliability;Specification;Specification(approval);Specifications
【摘要】:Thepurposeofthistechnicalspecificationistoprovideguidancerelatedtothetestingofmicroelectronicdevicesforpurposesofmeasuringtheirsusceptibilitytosingleeventeffects(SEE)inducedbytheatmosphericneutrons.Sincethetestingcanbeperformedinanumberofdifferentways,usingdifferentkindsofradiationsources,italsoshowshowthetestdatacanbeusedtoestimatetheSEErateofdevicesandboardsduetotheatmosphericneutronsintheatmosphereataircraftaltitudes.
【中国标准分类号】:L04;V40
【国际标准分类号】:49_060
【页数】:32P.;A4
【正文语种】:英语
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